La Fluorescencia de Rayos X portátil  es una técnica de muestreo versátil, rápida y  ampliamente reconocida, que identifica un gran número de elementos químicos al cabo de algunos segundos. Esta técnica presenta resultados en tiempo real, permitiendo decidir la necesidad de muestreo adicional ante resultados analíticos no concluyentes. Alcanza límites de detección de hasta 0.002% (20 ppm).

La Fluorescencia de Rayos X utiliza la emisión secundaria o fluorescente de radiación X que se genera al excitar una muestra con una fuente emisora de rayos X. La radiación X incidente o primaria expulsa electrones de orbitales interiores del átomo. Por ende, los electrones de orbitales más lejanos al átomo ocupan los lugares vacantes, y el exceso energético resultante de esta transición se disipa en forma de fotones: la llamada Radiación X fluorescente o secundaria. Esta radiación de fluorescencia es característica para cada elemento químico.Consecuentemente, es posible identificar un elemento dentro del espectro de la muestra si se conoce la energía entre los orbitales atómicos implicados (longitud de onda). La concentración de cada elemento se detecta midiendo la intensidad de la energía asociada a cada transición de electrones; es decir, la salida de un análisis EDXRF es un espectro que muestra la intensidad de radiación en función de la energía.

principal el análisis químico elemental, tanto cualitativo como cuantitativo, de los elementos comprendidos entre el flúor (F) y el uranio (U) de muestras sólidas (filtros, metales, rocas, muestras en polvo, tejidos, etc.) y liquidas porque permite hacerlos sin preparación de la muestra. El único requisito es que ésta tenga un tamaño inferior al del porta muestras.